Title: Rasterelektronenmikroskopie, Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
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500.000-fach vergrößert und trotzdem noch gestochen scharf.

Beim Einsatz in der Werkstoffanalytik, auch im Zusammenhang mit Schadensanalysen, ist der Einsatz des Raster-Elektronenmikroskops (REM) heute kaum mehr wegzudenken.

Mit dem REM erreicht TPW Prüfzentrum für Sie hoch vergrößernde Abbildungen von Ober-
flächenstrukturen von 5-fach bis ca. 500.000-fach. Und das mit einer ungeheuer hohen Tiefenschärfe. Außerdem lassen sich chemische Elementgehalte und -verläufe bestim-
men. Die Voraussetzung dafür ist, dass die untersuchten Proben fest, trocken und elektrisch leitend sind. Bei Bedarf werden sie dazu dünn mit Kohlenstoff oder Gold beschichtet und fallen so nicht durch unser strenges Raster.



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